
X-ray microanalysis(X射线显微分析):一种在显微尺度上利用X射线信号来鉴定材料元素组成与其空间分布的分析方法,常与电子显微镜或电子探针技术结合使用(如EDS/EDX、WDS),用于材料科学、地质、半导体与失效分析等领域。
/ks re makronlss/
We used X-ray microanalysis to identify the metal in the sample.
我们用X射线显微分析来鉴定样品中的金属元素。
Combined with scanning electron microscopy, X-ray microanalysis revealed a non-uniform distribution of silicon and oxygen along the crack surface.
结合扫描电子显微镜,X射线显微分析显示裂纹表面沿线硅和氧的分布不均匀。
该术语由三部分组成:X-ray(X射线,用于产生可被探测的特征辐射信号)+ **micro-**(“微、小”,表示在微观/显微尺度进行)+ analysis(分析)。整体字面义即“用X射线进行微区分析”,在材料与显微表征语境中逐渐固定为专门术语。